美國 賽默飛 高分辨率電感耦合等離子體質譜儀 (HR-ICP-MS)? Element 2 / ELEMENT XR
產品名稱：高分辨率電感耦合等離子體質譜儀 (HR-ICP-MS)
制造廠商：美國 賽默飛
產品型號：Element 2™ / ELEMENT XR™
產品描述/技術指標：
高分辨率電感耦合等離子體質譜儀 (HR-ICP-MS)ELEMENT™ 系列 ICP-MS
您可以從兩種高性能，雙聚焦扇形磁場 Thermo Scientific™ ELEMENT™ 系列 ICP-MS 儀器中選擇，這些儀器針對易用性、穩定性和分析效率進行了優化。ELEMENT 2™ ICP-MS 提供強大的技術來解決特定問題，同時具備優異的靈敏度和信噪比。Thermo Scientific ELEMENT XR™ ICP-MS 結合法拉第檢測器與雙模式 SEM 檢測器將 ELEMENT 2 ICP-MS 的線性動態范圍擴展了三個數量級。
描述
在痕量元素定量分析方面，ICP-MS 擁有強大的技術水平。ICP-MS 嚴重的限制是對元素信號的多原子干擾。高質量數分辨率是消除這些干擾的金標準，可在痕量水平上準確可靠地進行多元素定量分析，樣品制備步驟極為簡便。
多元素分析
多元素檢測器可處理瞬變信號，包括 HPLC、GC 和激光消融。
元素周期表中的無干擾測量涵蓋基質組分（mg?L-1）和超痕量元素（低于 1 pg?L-1）。
高靈敏度 ICP-MS（低分辨率時）。
靈活性和可用性
高質量數分辨率可獲取譜干擾同位素，生成清晰的元素譜
對無干擾或受干擾同位素進行高精度同位素比分析。
熱等離子體和冷等離子體狀態。
ELEMENT XR ICP-MS
寬線性動態檢測范圍對于 ICP-MS 來說至關重要，因為其允許通過單次運行分析較寬的濃度范圍。
集成式法拉第檢測器的特性：
采樣時間低至 1 ms。
測量高強度峰后無需衰減時間
SEM 和法拉第之間自動切換，延遲時間為 <1 ms。
不同檢測器模式之間的線性交叉范圍較寬（>2 個數量級），允許準確進行自動交叉校正。
動態范圍為 0.2 cps（SEM）到 >1 x 1012 cps（法拉第）。
